保定冷冻扫描电镜冷冻透射电镜区别

纳瑞科技（北京）有限公司(Ion Beam Technology Co.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。

冷冻扫描电镜(Cryo-scanning electron microscopy, CSEM)和冷冻透射电镜(Cryo-transmission electron microscopy, CTEM)是两种用于观察冷冻样品的高分辨率的电子显微镜技术。尽管它们都使用电子束来观察样品,但它们在样品制备和观察方面存在一些区别。本文将比较这两种技术的区别,包括样品制备、观察方式和优缺点。

一、样品制备

冷冻扫描电镜通常用于观察生物样品,如细胞、组织和器官等。为了获得最佳的观察结果,样品需要进行固定和脱水处理。样品可以通过各种方法进行固定,如冰冻干燥或冷冻研磨。固定后,样品需要进行脱水处理,以减少电子束通过样品时的散射。

冷冻透射电镜的样品制备过程与冷冻扫描电镜相似。样品需要进行固定和脱水处理,以减少电子束通过样品时的散射。不同之处在于,冷冻透射电镜通常用于观察无机样品,如晶体和金属。因此,样品通常不需要进行固定处理。

二、观察方式

冷冻扫描电镜和冷冻透射电镜的观察方式也存在一些区别。冷冻扫描电镜通常使用高能电子束来观察样品。电子束从样品中穿过时,样品中的原子被电离,产生电子云。这些电子云被计算机重构,以生成图像。冷冻扫描电镜的观察方式可以提供高分辨率的图像,但由于电子束的能量较高,因此对样品造成一定的损伤。

冷冻透射电镜使用低能电子束来观察样品。电子束被样品中的原子吸收,然后从样品中透过。通过使用不同的透镜设置,冷冻透射电镜可以提供高分辨率的图像,而不会对样品造成损伤。

三、优缺点

冷冻扫描电镜和冷冻透射电镜各自具有优点和缺点。冷冻扫描电镜的优点包括高分辨率、高灵敏度和高特异性。